鲍林规则包含哪些内容?怎样利用鲍林规则说明硅酸盐晶体结构的特征和硅氧骨干的型式?请帮忙给出正确答案和

正确答案：×
鲍林规则包括了以下4个方面的内容：①在每个正离子的周围,形成了负离子的配位多面体。正、负离子的距离取决于半径之和,而正离子的配位数取决于正、负离子的半径比。②静电键规则：在稳定的离子结构中,每个负离子的电价数等于或接近这个负离子与其邻近正离子之间各静电键强度的总和。若静电键强度s定义为正离子电价数ω+与其配位数n+之比,即s＝ω-／ω+,则负离子的电价数为③在一个配位结构中公用棱边,特别是公用平面会使结构的稳定性降低,正离子的价数越高,配位数越低,这一效应越显著。④在含有各种不同正离子的晶体中,价数高而配位数低的正离子,倾向于彼此间不共用配位体的任何几何要素。根据鲍林规则,可以分析硅酸盐晶体结构的特征及硅氧骨干的型式。因为硅和氧的离子半径比为r+／r-＝41／140＝0．293＜0．414,则硅的配位数应为4,即硅氧骨干的基本型式应是S4+填充在O2+所围成的正四面体空隙中＝140＋40＝18l(pm)但由于Si—0键基本上是共价键,故键长缩短,实验值为162pm,说明Si—O键较强。若Si—O结合,形成硅酸盐晶体的结构骨干不仅可能而且也是合理的。硅氧键的静电键强度为＝ω+／n+＝4／4＝1则ω-＝＝2×1＝2(n-为负离子配位数)故SiO4四面体每个顶点(O2-)最多可能为两个SiO4四面体所公用(n-＝2)。如果相邻两个SiO4四面体公用棱或面,则体系极不稳定,事实上也是不可能的。由于Si4+的高电价和低配位数,SiO4四面体倾向于不公用任何几何要素。事实上,在硅酸盐中,O原子数与Si原子数的比值大于或等于4时,才出现第二种情况,即公用一个顶点。还可以发现Si4+—Si4+键之间通过O2-来相互连接。