LTE中进行簇优化时 如何利用扫频仪的测试结果对区域的覆盖/干扰情况做总体判断?
LTE中进行簇优化时,如何利用扫频仪的测试结果对区域的覆盖/干扰情况做总体判断?
参考解答
利用扫频仪对特定频点的测试结果可以得到电平/信噪比分布统计,理想的分布是尽量高比例的打点分布于高电平/高信噪比的区域,如果打点集中分布于低电平/低信噪比的区域,说明区域有明显的弱覆盖问题,如果打点集中分布于高电平/低信噪比的区域,则说明区域需要解决信号的相互干扰问题。
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